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TEM小室在電磁兼容檢測中的應用
作者:  日期:2018-06-14  瀏覽次數:1068次  來源:
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       隨著電磁兼容檢測技術的發展和提高,人們正針對不同的電子電器產品尋求更為簡單便捷的檢測方法,尤其對于小型的電子產品,如:電動玩具、集成電路(PCB板)、汽車電子零部件等。
       電磁兼容性的測量手段主要是由測試場地和測試儀器組成。常規的電磁兼容檢測方法有屏蔽室法、開闊場法、電波暗室法等。
       屏蔽室:在EMC測試中,屏蔽室能提供環境電平低而恒定的電磁環境,它為測量精度的提高,測量的可靠性和重復性的改善帶來了較大的潛力。但是由于被測設備在屏蔽室中產生的干擾信號通過屏蔽室的六個面產生無規則的漫反射,特別是在輻射發射測量和輻射敏感度測量中表現更嚴重,導致在屏蔽室內形成駐波而產生較大的測量誤差。
       電波暗室:通常所說的電波暗室在結構上大都由屏蔽室和吸波材料兩部分組成。在工程應用中又分全電波暗室和半電波暗室。全電波暗室可充當標準天線的校準場地,半電波暗室可作為EMC試驗場地。電波暗室的主要性能指標有“靜區”、“工作頻率范圍”等六個。但建造電波暗室的成本、難度均相當高,因為暗室的工作頻率的下限取決于暗室的寬度和吸收材料的長度、上限取決于暗室的長度和所充許的靜區的最小截面積。且由于吸波材料的低頻特性等原因,總的測試誤差有時高達幾十分貝。
       由于開闊場、屏蔽室和電波暗室的部分缺點,1974年美國國家標準局的專家首先系統的論述了橫電波傳輸小室(簡稱GTEM小室),其外形為上下兩個對稱梯形。橫電波小室具有結構簡單、檢測方法簡便等特點。標準TEM小室的測量尺寸大約限定在設計的最小工作波長的四分之一范圍,但對于小尺寸的被測件,可以滿足測試的要求和技術指標。
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